Инвертированный металлографический микроскоп

Микроскоп позволяет проводить анализ шлифов металлов, упрочненного слоя, определение балла зерна и решать прочие задачи по ГОСТам. Работа в светлом, темном поле, поляризации и ДИК контрасте. В реестре СИ в качестве программно-аппаратного комплекса для анализа микроструктуры металлов и сплавов.